颗粒是导致轴承故障的重要原因。为避免轴承意外受损,需要对轴承组件进行清洁度评估,以便评估并保证轴承的性能。 ISO 16232 规定了四种颗粒杂质的提取方法。 .
• 摇动法 :向轴承组件注入已知量的溶剂,封口后摇动,提取杂质。
• 加压冲洗 :使用试验液体加压冲洗轴承,冲掉杂质以便提取。
• 超声波技术 :超声波产生的微气泡在颗粒附近聚爆。然后颗粒就会被排出,在提取液中收集颗粒。
• 功能试验 :模拟组件的运行状态,使用流动的液体将杂质从轴承表面分离,然后提取颗粒,见图。
不论选择哪种提取方法,都要遵循一个共同的原则。 ISO 16232 介绍了一种有效的颗粒提取方法,如公式
Sn代表最后一次提取的颗粒数量, Si 代表每次收集到的颗粒数量。也就是说,直到最后一次的采样值( Sn)小于等于总采样值的 1/10 时才能停止提取。但是,如果 6 次提取之后仍不能满足公式,则提取参数无效,应重新检查。
必须要注意的是,图 中的空白值反映组件操作和测试引入的杂质,该值也应小于假定的用重量法测定的清洁度水平的 10%,或小于相关尺寸颗粒的规定数量的 10%。然后,可以通过几种方法来测定与分析提取的液体。根据 ISO 16232,表 1 列出了几种不同的分析方法。实际操作时可以根据对分析结果的要求选择一种或多种方法。
方法 | 设备 | 参数 | 结果 | 限制 |
重量评估 | 天平 | 总重量 | 清洁度水平,没有单个颗粒的数据 | 环境条件(湿度等) |
光学显微镜 | 实验室手动或自动显微镜 | 颗粒分布(长度、面积) | 清洁度水平,包括颗粒数据 | 颗粒数量不能过多,避免覆盖 |
扫描电子显微镜 | 手动或自动扫描电子显微镜 | 颗粒分布/颗粒类型 | 清洁度水平,包括最全面的颗粒尺寸和类型数据 | 颗粒数量不能过多,避免覆盖 |
自动消光 | 颗粒计数器 | 受限颗粒分布(等效直径) | 清洁度水平,包括颗粒数据 | 颗粒在介质稀疏分布,避免覆盖 |
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