在传统的超声TOFD 法当中,存在着一定的表面检测盲区。针对这一情况,可采用TOFD 与A 型脉冲反射超声检测结合以及采用TOFD 纵波三次反射的TOFDW 检测模式检测近表面缺陷。
采用非平行和偏置非平行扫查时,TOFD 检测在扫查面均存在表面盲区。TOFD 检测前,应根据探头设置及所选择的扫查方式通过试验测定其表面盲区高度,然后对于表面盲区采用脉冲反射法超声检测,发现相应的缺陷。
可以采用的盲区试块如下图,试块采用刻槽模拟缺陷。
1)将TOFD 仪器和试块设置好,不失一般性这里不对仪器进行特意设置。以5~8mm 刻槽面为扫查面时的TOFD 图谱:上表面5~8mm 深刻槽均看见,下表面2~3mm 深刻槽可见。
2)扫查面为1~4mm 刻槽面时的TOFD 图谱:上表面 1~4mm 深刻槽可见4mm 刻槽,下表面5~8mm 深刻槽均可见。
3)扫查面为1~4mm 刻槽面时的TOFD 图谱经差分处理后,上表面1~4mm 深刻槽可见3mm、4mm 刻槽。可见差分处理后,盲区不大于3mm 此时TOFD 表面盲区为3mm。
4)常规超声检测
检测采用横波斜探头,探头型号为2.5P13×13K1。一次波对1~4mm 深刻槽扫查的UT 图:
二次波对1~4mm 刻槽面时的UT 图可见1mm 刻槽有端角信号。实验表明常规UT 可以作为TOFD 盲区检测的补充手段。
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