TOFD 与A 型脉冲反射超声检测结合检测近表面缺陷

在传统的超声TOFD 法当中，存在着一定的表面检测盲区。针对这一情况，可采用TOFD 与A 型脉冲反射超声检测结合以及采用TOFD 纵波三次反射的TOFDW 检测模式检测近表面缺陷。

1 原理分析

采用非平行和偏置非平行扫查时，TOFD 检测在扫查面均存在表面盲区。TOFD 检测前，应根据探头设置及所选择的扫查方式通过试验测定其表面盲区高度，然后对于表面盲区采用脉冲反射法超声检测，发现相应的缺陷。

2 对比试块

可以采用的盲区试块如下图，试块采用刻槽模拟缺陷。

3 TOFD 检测盲区深度确认

1)将TOFD 仪器和试块设置好，不失一般性这里不对仪器进行特意设置。以5~8mm 刻槽面为扫查面时的TOFD 图谱：上表面5~8mm 深刻槽均看见，下表面2~3mm 深刻槽可见。

2)扫查面为1~4mm 刻槽面时的TOFD 图谱：上表面 1~4mm 深刻槽可见4mm 刻槽，下表面5~8mm 深刻槽均可见。

3)扫查面为1~4mm 刻槽面时的TOFD 图谱经差分处理后，上表面1~4mm 深刻槽可见3mm、4mm 刻槽。可见差分处理后，盲区不大于3mm 此时TOFD 表面盲区为3mm。

4)常规超声检测

检测采用横波斜探头，探头型号为2.5P13×13K1。一次波对1~4mm 深刻槽扫查的UT 图：

二次波对1~4mm 刻槽面时的UT 图可见1mm 刻槽有端角信号。实验表明常规UT 可以作为TOFD 盲区检测的补充手段。