颗粒是导致轴承故障的重要原因。为避免轴承意外受损,需要对轴承组件进行清洁度评估,以便评估并保证轴承的性能。IS0 16232规定了四种颗粒杂质的提取方法。.
·摇动法:向轴承组件注入已知量的溶剂,封口后摇动,提取杂质。
·加压冲洗:使用试验液体加压冲洗轴承,冲掉杂质以便提取。
·超声波技术:超声波产生的微气泡在颗粒附近聚爆。然后颗粒就会被排出,在提取液中收集颗粒。
·功能试验:模拟组件的运行状态,使用流动的液体将杂质从轴承表面分离,然后提取颗粒,见图4。
不论选择哪种提取方法,都要遵循…个共同的原则。IS0 16232介绍了一种有效的颗粒提取方法,如公式(1)与图1所示。
Sn代表最后一次提取的颗粒数量,Si代表每次收集到的颗粒数量。也就是说,直到最后一次的采样值(Sn)小于等于总采样值的1/10时才能停止提取。但是,如果6次提取之后仍不能满足公式(1),则提取参数无效,应重新检查。
必须要注意的是,图中的空白值反映组件操作和测试引入的杂质,该值也应小于假定的用重量法测定的清洁度水平的10%,或小于相关尺寸颗粒的规定数量的10%。
然后,可以通过儿种方法来测定与分析提取的液体。根据ISO l6232,表1列出了几种不同的分析方法。实际操作时可以根据对分析结果的要求选择一种或多种方法。
表 颗粒分析方法汇总
方法 | 设备 | 参数 | 结果 | 限制 |
重量评估 | 天平 | 总重量 | 清洁度水平,没有单个颗粒的重量 | 环境条件(包括湿度等) |
光学显微镜 | 实验室手动或自动立体显微镜 | 颗粒分布(长度、面积等) | 清洁度水平,包括颗粒数据 | 颗粒数量不能过多,避免覆盖 |
扫描电子显微镜 | 手动或自动扫描式电子显微镜 | 颗粒分布、颗粒类型 | 清洁度水平,包括全面的颗粒尺寸和类型数据 | 颗粒数量不能过多,避免覆盖 |
自动消光 | 颗粒计数器 | 受限制颗粒分布(等效直径) | 清洁度水平,包括颗粒数据 | 颗粒介质稀疏分布,避免覆盖 |
ISO 16232颗粒物提取套装
ISO 16232颗粒物检测仪器
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