首页解决方案 颗粒提取与测量方法

颗粒提取与测量方法

发布者:斯凯孚(中国)销售有限公司 官萃| 发布于:2016-07-14

  颗粒是导致轴承故障的重要原因。为避免轴承意外受损,需要对轴承组件进行清洁度评估,以便评估并保证轴承的性能。IS0 16232规定了四种颗粒杂质的提取方法。.

  ·摇动法:向轴承组件注入已知量的溶剂,封口后摇动,提取杂质。

  ·加压冲洗:使用试验液体加压冲洗轴承,冲掉杂质以便提取。

  ·超声波技术:超声波产生的微气泡在颗粒附近聚爆。然后颗粒就会被排出,在提取液中收集颗粒。

  ·功能试验:模拟组件的运行状态,使用流动的液体将杂质从轴承表面分离,然后提取颗粒,见图4。

  不论选择哪种提取方法,都要遵循…个共同的原则。IS0 16232介绍了一种有效的颗粒提取方法,如公式(1)与图1所示。

  Sn代表最后一次提取的颗粒数量,Si代表每次收集到的颗粒数量。也就是说,直到最后一次的采样值(Sn)小于等于总采样值的1/10时才能停止提取。但是,如果6次提取之后仍不能满足公式(1),则提取参数无效,应重新检查。

ISO 16232颗粒物提取计算公式

  必须要注意的是,图中的空白值反映组件操作和测试引入的杂质,该值也应小于假定的用重量法测定的清洁度水平的10%,或小于相关尺寸颗粒的规定数量的10%。

  然后,可以通过儿种方法来测定与分析提取的液体。根据ISO l6232,表1列出了几种不同的分析方法。实际操作时可以根据对分析结果的要求选择一种或多种方法。

表 颗粒分析方法汇总

方法设备参数结果限制
重量评估天平总重量清洁度水平,没有单个颗粒的重量环境条件(包括湿度等)
光学显微镜实验室手动或自动立体显微镜颗粒分布(长度、面积等)清洁度水平,包括颗粒数据颗粒数量不能过多,避免覆盖
扫描电子显微镜手动或自动扫描式电子显微镜颗粒分布、颗粒类型清洁度水平,包括全面的颗粒尺寸和类型数据颗粒数量不能过多,避免覆盖
自动消光颗粒计数器受限制颗粒分布(等效直径)清洁度水平,包括颗粒数据颗粒介质稀疏分布,避免覆盖

相关仪器

ISO 16232颗粒物提取套装

ISO 16232颗粒物提取套装

ISO 16232颗粒物检测仪器

ISO 16232颗粒物检测仪器

注:文章基于技术交流从网络收集整理,版权归文章原作者所有,如果您认为文章内容侵犯您的合法权益,或者希望您的文章得到展示,请及时与我们联系,收到反馈之后我们会于24小时内处理.
相关仪器产品
  • 清洁度等级测试仪
  • 表面油脂检测仪
  • 表面残留物检测仪
  • 表面盐分测试套装
  • 在线式表面张力仪
    手机扫描二维码

Powered by H.J.Unkel Copyright © 2016-2022 All Rights Reserved.