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>表面检测-单晶硅
与单晶硅相关的文章:
单晶硅亚表面损伤层厚度检测现状
当前,在国家科技重大专项“极大规模集成电路IC制造装备及成套工艺”02 专项的支持下,我国在集成电路制造装备与技术方面有了大幅提升,但受工艺技术与设备条件的限制,目前整体实力与国外相比仍有一定差距。其中,高质量超光滑表面的加工是IC 制造发展的瓶颈问题。 ......
单晶硅
|
表面损伤
|
厚度检测
|
徐 乐,郭 剑,余丙军,钱林茂
2016/10/25
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